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 Responsable : J.P. Lowys  |
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 Public |
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Professeurs de classes préparatoires aux grandes écoles scientifiques. |
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Objectifs |
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A partir des notions simples de structure des matériaux cristallins, comprendre le fonctionnement et voir des applications de quelques techniques d'analyse et de caractérisation de ces matériaux |
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Contenu |
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Etudier les aspects structuraux cristallographiques de la matière solide |
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Examiner les différentes interactions d'un rayonnement X avec le solide cristallisé |
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Appliquer ces connaissances théoriques à la caractérisation des solides par les méthodes de diffraction X ou de fluorescence X |
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Des compléments sont apportés pour d'autres techniques d'analyse des structures au laboratoire, notamment microscopiques (MEB, MET, AFM) et analyse Auger |
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Méthode de travail |
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2 jours, dont 1/2 journée de cours et 1 jour et demi de travaux pratiques |
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Equipe pédagogique |
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J.P. LOWYS, R. FILLIT, A. FRACZKIEWICZ, R. GIBERT, J.J. GRUFFAT, T. MAGNIN, L. PERIER-CAMBY, G. THOMAS, O. VALFORT, K. WOLSKI |
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Centres de formation
et de recherche 
Français
